技術文章首頁 > 技術文章 > 全部文章
菲希爾XDL230信息
點擊次數(shù)：36 更新時間：2025-08-19 打印本頁面 返回
菲希爾 XDL230 X 射線測厚儀是一款專為高精度涂層厚度測量設計的先進設備，在眾多行業(yè)中發(fā)揮著關鍵作用。
它采用先進的 X 射線技術進行測量。X 射線源發(fā)射出特定能量的 X 射線束，當射線束照射到待測樣品表面時，部分射線會被涂層和基材吸收與散射。由于不同元素對 X 射線的吸收和散射特性不同，通過探測器檢測穿透或散射后的 X 射線強度變化，并結合儀器內(nèi)置的專業(yè)算法，就能精確計算出涂層的厚度。這種測量方式具有的準確性和分辨率，能夠檢測極薄涂層，甚至達到亞微米級別的精度，為對涂層厚度要求苛刻的應用場景提供可靠數(shù)據(jù)。
XDL230 X 射線測厚儀測量范圍廣泛，可適應多種不同材質(zhì)的涂層與基材組合。無論是金屬表面的防腐涂層、電子元件上的絕緣涂層，還是塑料、陶瓷等材料表面的功能性涂層，它都能精準測量。在電子制造行業(yè)，可用于測量芯片引腳的鍍金層厚度，確保電子連接的可靠性；在汽車制造領域，能精確檢測汽車零部件表面的油漆涂層厚度，保障汽車外觀質(zhì)量和耐腐蝕性；在航空航天工業(yè)中，對于飛行器關鍵部件的涂層厚度檢測，該儀器憑借高精度，為飛行安全提供有力保障。
